← Вернуться

Шиколенко Ю. Л.

Развитие методов сканирующей зондовой микроскопии для диагностики электрофизических параметров элементов хранения энергонезависимой памяти специальность 05.27.01 <твердотельная электроника>

О произведении

Автор:
Заглавие:
Развитие методов сканирующей зондовой микроскопии для диагностики электрофизических параметров элементов хранения энергонезависимой памяти специальность 05.27.01 <твердотельная электроника>
Место издания:
Москва
Год издания:
Количество страниц:
35 с.
Библиотека:
Российская национальная библиотека (РНБ)

Похожие