← Вернуться

Попков К.А.

Нижние оценки длин полных диагностических тестов для схем и входов схем

О произведении

Автор:
Заглавие:
Нижние оценки длин полных диагностических тестов для схем и входов схем
Место издания:
Москва
Издательство:
ИПМ им. М.В. Келдыша РАН
Год издания:
Количество страниц:
12 с.
Серия:
Препринты ИПМ им. М.В. Келдыша
Примечание содержания:
Рез. на англ. яз.
Общее примечание:
Рез. на англ. яз.
ББК:
З973.2-077
Библиотека:
Российская национальная библиотека (РНБ)

Похожие