← Вернуться

Приборы и установки измерительные для проверки параметров полупроводниковых приборов. Общие технические требования =. Cheakout devices and sets testing performance solid state devices. General technical reguirements : государственный стандарт союза ССР

О произведении

Место издания:
Москва
Издательство:
Изд-во стандартов
Год издания:
.
Количество страниц:
5 с.
ББК:
Э20
УДК:
621.317.7:006.354
Библиотека:
Российская государственная библиотека (РГБ)

Похожие