← Вернуться

Методы ускоренных испытаний сверхбольших интегральных микросхем на надежность специальность 05.02.23 <Стандартизация и управление качеством продукции>

О произведении

Автор:
Место издания:
Москва
Год издания:
Количество страниц:
18 с.
ББК:
У50-44
УДК:
006
Библиотека:
Российская национальная библиотека (РНБ)

Похожие